これらの多肢選択式の半導体に関する質問と回答は、半導体のトピックをより深く理解するのに役立ちます。 これらの 100 以上の半導体 MCQ を活用して、次の試験や面接の準備をすることができます。
下にスクロールして回答を始めてください。
A. あらゆる方向の電流フローを開きます
B. 電流を別の方向に流しながら、一方向に電流をブロックします。
C. すべての方向に電流の流れを閉じます
A. アンチモン
B. リン
C. 砒素
D. ボロン
A. Fermi-Dirac Distribution
B. Maxwell-Boltzmann Distribution
C. Bose-einstein分布
A. P-Nジャンクション
B. 早期電圧
C. 金属挿入器 - メタル接合部
D. ホールエフェクトジャンクション
A. 溶けて攪拌されました。
B. 導電性を低下させるために不純物が追加されています。
C. 電子特性を制御可能な方法で変更する不純物が追加されています。
D. 不純物のすべてが削除されました。
A. 半導体の動作を変更
B. 半導体を複製します
C. 半導体を酸素化します
D. 半導体を精製します
A. はい。すべての半導体は砂の採石場にあります。
B. いいえ。半導管になるために不純物が必要です。
C. はい。
D. はい。より純粋なほど良い。
A. n-type&p-type
B. Schottky&de Forest
C. 左利きと右利き
D. 本質的および外因性
A. 頻度を切り取ります
B. 一致する頻度
C. 共鳴周波数
D. チューニング周波数
A. Miller' s
B. Marleau' s
C. ムーア' s
D. Marchand' s
A. ソース、ゲート、信号、およびボディ。
B. 砂、門、排水、体。
C. ソース、nor、および、および、または。
D. ソース、ゲート、排水、および体。
A. ラインフォーカスを増やすため
B. ブレークダウン電圧を改善する
C. ステップ応答時間を短縮します
D. 炭酸カルシウムの蓄積を減らすため
A. 抵抗性と導電性
B. ガンマとデルタ
C. フォトンとフォノン
D. 価数と伝導
A. 抵抗器
B. 電子
C. ダイオード
D. トランジスタ
A. 導体の半分。
B. 非常にうまく機能しない指揮者。
C. 導電性材料と絶縁体の組み合わせ。
D. 導体の2つの半分。
A. n-n-n、およびp-n-p。
B. n-p-r、u-p-n
C. n-p-n、およびp-n-p。
D. n-p-n、およびp-n-n-p。
A. PSET
B. MTT
C. NRT
D. bjt
A. それらは重要ではありません。
B. それらは大きくて耐久性があります。
C. 彼らは、データを計算する主要な方法として真空チューブを正常に交換しました。
D. 彼らはシリコンを交換しました。
A. ソース、排水、およびゲート
B. 電圧、電流、抵抗率
C. エミッタ、コレクター、ベース
D. ドーパント、アクセプター、ドナー
A. 製造
B. 挿入
C. フォトリソグラフィ
D. ドーピング
A. 溶融。
B. ひび割れ。
C. ドーピング。
D. 指揮。
A. バイメタリックジェニングストランジスタ
B. 正当化されたトランジスタ
C. ホウ素ジョイントトランジスタ
D. 双極ジャンクショントランジスタ
A. 塩。
B. ケイ素。
C. ガラス。
D. ゴム。
A. 光排出装置
B. 光電磁ダイオード
C. 発光ダイオード
D. 光電子デバイス
A. 絶縁ゲート双極トランジスタ。
B. 本質的なゲルマニウムベースのトランジスタ
C. 不活性ゲート双方向トランジスタ
D. ヨウ素グラファイトホウ素トランジスタ
A. フェルミオン
B. ボソン
A. 1つの要素の3つの部分で作られた半導体までの半導体別の要素の5つの部分
B. 周期表の列IIIとVの要素から作られた半導体
C. 3 eVと5 eVの伝導帯を持つ半導体
A. N型半導体。
B. ボロニックトランジスタ。
C. ボリック反応トランジスタ。
D. P型半導体。
A. フェルミダイラック分布と状態密度
B. Ohm' s Law&Kirchhoff'の現在の法律
C. Riemann Zeta関数とフーリエ変換
D. Bose-Einstein分布とBessel機能
A. トンネリング
B. 自発放出
C. 初期化
D. 再結合
A. ドリフト、拡散、組換え世代
B. 組換え世代、分離、拡散
C. 意見の相違、ドリフト、組換え世代
D. ドリフト、拡散、反対
A. BJT
B. scr
C. トライアック
D. mosfet
A. 彼らのクリスタルラティス。
B. 彼らの外。
C. 彼らの中心。
D. 彼らの層。
A. フォトンフォノンペア
B. 電子穴ペア
C. 磁気モノポール
D. バンドギャップ共鳴
A. バンドギャップ
B. フォノン周波数
C. 電子有効質量
D. 誘電率
A. 潜在的
B. エネルギー
C. 導電率
D. 力
A. フェルミエネルギー
B. DIRAC統計
C. フェルミレベル
D. フェルミオンレベル
A. フォトリソグラフィ
B. 化学蒸気堆積(CVD)
C. MEMS
D. スパッタリング
A. 楕円の半ミノール軸
B. 楕円の主要軸
C. メジャーコード
D. 楕円のマイナー軸
A. これらはすべて、縮退半導体の特性です
B. それは金属のように行動します
C. そのフェルミレベルは、その伝導または価電子帯エネルギーにほぼ等しい
D. それは非常にドープされています
A. 金属トランジスタ
B. メモリサイリスタ
C. 金属抵抗器
D. メモリ抵抗
A. l
B. Q
C. t
D. r
A. トランジスタ
B. インダクタ
C. ダイオード
D. 抵抗
A. 17%
B. 33%
C. 52%
D. 21%
A. 銅、インジウム、ガリウム、セレン
B. カドミウム、インジウム、ゲルマニウム、硫黄
C. 銅、インジウム、ガリウム、銀
D. 炭素、ヨウ素、ゲルマニウム、硫黄
A. 1.12 eV
B. 25.6 mev
C. 15 eV
D. 137 Mev
A. グループIV
B. グループv
C. グループIII
D. グループVI
A. ファブ
B. チップショップ
C. 半導体生産施設(SPF)
D. 大皿植物
A. 1.12 ev
B. 1.41 ev
C. 2.83 eV
D. 0.79 eV
A. ゲルマニウム
B. ガリウムアルセニド
C. 炭化シリコン
D. ケイ素
A. それらは非局在化されています。
B. 彼らはスピードアップされています。
C. 彼らは攻撃されました。
D. それらはニュートリノによって囲まれています。
A. ケイ素
B. ガリウムアルセニド
C. ゲルマニウム
D. アルセニドアルミニウム
A. ニッケルパラジウム結晶触媒
B. Schottkyの結晶化
C. Czochralskiプロセス
D. 化学蒸着
A. スクライブライン
B. 接着剤
C. ヘキソード
D. マスク
A. 外因性
B. 本質的
C. アウト凍結
D. で溶ける
A. nm^3
B. mm^3
C. m^3
D. cm^3
A. 真実
B. 間違い
A. 多数の無料多数派のキャリアを解放します
B. どれでもない
C. これは、前方のバイアスされたP-Nダイオードの電気的故障で構成されています
D. これらすべて
E. それは重いドープされたジャンクションで発生します
A. 累積
B. 伝導
C. 反転
D. 枯渇
A. 電子密度
B. 磁気方向
C. 熱運動
D. 合成浸透
A. 光子
B. フォノン
A. 積極的に充電されました
B. 否定的に充電されました
C. 電気的にニュートラル
D. 上記のどれでもない
発振器のBarkhausen基準_______。
A. <p>aβ<1 </p>
B. <p>aβ> 1 </p>
C. <p>aβ= 1 </p>
D. <p>aβ≤1</p>
A. 増加
B. 下降
C. 一定のままです
A. 5.2 Ma
B. 6.12 Ma
C. 7.03 Ma
D. 7.45 Ma
A. 2IB
B. 10ib
C. 4IB
D. IB/2
A. 0.2
B. 200
C. 100
D. 20
A. 負荷を介した正のハーフサイクル
B. 負荷を介したネガティブハーフサイクル
C. 負荷を介した正と負の半サイクルの両方
D. 上記のどれでもない
A. 5V
B. 12V
C. 10.36V
D. 5.18V
A. カソードからアノードまで
B. アノードからカソードまで
C. 両方の上記の方向
D. 両方向に交互に
A. 40%
B. 30%
C. 22%
D. 27%
A. 非常にわずかな
B. 適度
C. 重い
A. 20kHz
B. 50kHz
C. 100kHz
D. 200kHz
A. 30.4
B. 32.9
C. 57
D. 4.5
A. 正のゲート電圧の減少とともに
B. 正のゲート電圧の増加に伴い
C. 負のゲート電圧の減少とともに
D. 負のゲート電圧の増加とともに
A. 130 dB
B. 140 dB
C. 132 dB
D. 138 dB
A. c/lr
B. r/lc
C. l/cr
D. 2L/cr
A. 三極
B. ペントード
C. Thyratron
D. ダイオード
A. 開ける
B. 短い
C. 時には開いて、時には短くなります
D. 変更なし
A. 40%
B. 81.2%
C. 90%
D. 99%
A. 5V
B. 10V
C. 20V
D. 30V
A. 三角
B. 長方形
C. のこぎり
D. スパイク
A. 0.95
B. 10
C. 9.5
D. 0.095
A. 300
B. 600
C. 900
D. 1800
A. 長方形
B. スパイク
C. 三角
D. sinusoidal
A. SIトランジスタの0.9V
B. SIトランジスタの0.5V
C. SIトランジスタの0.3V
D. SIトランジスタの0.7V
A. fo = 1/2п√rc
B. fo = 1/2п√6rc
C. fo = 1/√2пrc
D. fo = 2/√2пrc
A. ω
B. kΩ
C. mΩ
D. mΩ
A. 0
B. 低い
C. すごく高い
D. とても低い
A. 2ma
B. 1MA
C. 4MA
D. 8ma
A. 10 Ma
B. 20 ma
C. 5 Ma
D. 3.18 Ma
A. 整流器とアンプ
B. 整流器とトランジスタ
C. 整流器と発振器
D. 整流器とインバーター
A. RC発振器
B. LC発振器
C. クリスタル発振器
A. 4.7V
B. 5.4V
C. 3.3V
D. 0.7V
A. フェーズで
B. 段階から90°
C. フェーズから180°の
D. フェーズから120°
A. 0
B. ポジティブ
C. ネガティブ
A. 双極デバイス
B. 三極デバイス
C. ユニポーラデバイス
A. 回路内のNチャネルデバイスのみ
B. 回路内のP-チャネルデバイスのみ
C. 回路内のNとPの両方のチャネルデバイス
D. 上記のどれでもない
A. NP/NS = 40
B. NP/NS = 20
C. np/ns = 30
D. NP/NS = 10
A. 0
B. 10
C. 1
D. 100