Testez votre compréhension de l'ingénierie de la fiabilité en répondant à plus de 100 QCM sur l'ingénierie de la fiabilité.
Faites défiler vers le bas pour commencer !
A. Test de vie accéléré
B. Test de vie extrême
C. Tests de vie extraordinaires
D. Test de vie maximale
A. Ingénierie génétique
B. Nano machines
C. AJOUTER. essai
D. Données de vie
E. La génétique
A. American Motors Corporation
B. American Motor Speed Association
C. Modèle de prédiction de maturité AMSAA
D. Association américaine d'assurance multi-services
E. Réunion annuelle des membres des membres
A. American Mosaic Society
B. Activité d'analyse des systèmes des matériaux de l'armée
C. Association des académies de service militaire
D. American Metal Scrap Association
E. American Motorcyclist Association
A. Test t
B. Anova
C. Erreur d'attribution
D. SEM
E. Le test t
A. Tester la différence entre deux moyens
B. Déterminer s'il y a une différence de moyens
C. Construire un modèle de régression multiple
D. Analyse de la variance
E. Tester la différence entre plus de deux moyens
A. Un plus grand sens de la communauté
B. Bitcoin
C. Liberté
D. Moralité
E. Démocratie
A. Environ 100%
B. Environ 20%
C. Environ 80%
A. Calendrier
B. Calendrier du projet
C. Plan d'analyse
D. Liste de tâches
A. Johannes Michael Faraday
B. Svante Arrhenius
C. James Clerk Maxwell
D. J.J. Thomson
E. Jakob von uexküll
A. Modèle Arrhenius
B. Modèle carnot
C. Modèle de gaz idéal
D. Modèle Kelvin
E. Modèle de moteur de chaleur Carnot
A. Comme il est facile d'utiliser
B. À quelle vitesse il peut être réparé
C. Il est facile de modifier
D. À quelle fréquence il doit être réparé
E. Combien de travail il faut
A. La probabilité qu'un élément puisse fonctionner
B. La qualité d'un élément qui le rendra capable de fonctionner
C. La capacité d'un élément à résister aux dommages
D. La fiabilité d'un élément qui le rendra capable de fonctionner
A. 50%
B. 30%
C. dix%
D. 20%
E. 25%
A. Un diagramme de système
B. Un diagramme de blocs de fiabilité ou RBD
C. Un diagramme de bloc fonctionnel
D. Un diagramme de câblage
E. Un diagramme de blocs
A. Politiquement correct
B. Censurer à gauche
C. Le biais de l'hémisphère droit
D. Biais libéral
E. Le biais de l'hémisphère gauche
A. Ils sont tous sensibles à l'erreur
B. Ils ont tous un certain niveau d'inexactitude
C. Tous les points de données ne représentent pas les temps de défaillance exacts
D. Ils réduisent tous la liberté d'expression
E. Ils comptent tous sur l'interprétation humaine
A. En compétition
B. Température
C. Fabrication
D. Charger
E. Pouvoir
A. Un système qui indiquera quand les éléments ne sont plus nécessaires
B. Un système qui teste les éléments pour déterminer à quelle fréquence ils produisent des résultats corrects
C. Les éléments qui échouent en raison de plus d'un mode de défaillance
D. Articles qui ont un nombre fixe d'échecs
E. Un système qui indiquera quand les éléments ont échoué
A. Données qui se composent uniquement de temps de défaillance exacts
B. Les données qui ont été collectées en temps opportun
C. Données qui sont complètement précises
A. La fin d'un projet
B. L'achèvement d'un ensemble de données
C. Temps de défaillance exacts
A. Système avec retard
B. Système complexe
C. Système série
D. Système avec rétroaction
E. Système parallèle
A. Équation chimique
B. Modèle thermodynamique
C. Diagramme
D. Circuit
E. Organigramme
A. 600
B. 300
C. 100
D. 500
E. 1000
A. Fiabilité conditionnelle
B. Taille de l'échantillon
C. Fiabilité conjuguée
D. Temps d'échec
E. Validité prédictive
A. Limites de confiance
B. Marge d'erreur
C. Erreur standard
D. Moyenne
A. Cinq
B. Dix
C. Neuf
D. Aucun
E. Huit
A. Une représentation graphique des solutions possibles à l'équation du rapport de vraisemblance
B. Une technique de visualisation utilisée pour représenter des données avec une fréquence variable
C. Une représentation graphique des points de données dans un échantillon donné
D. Une représentation graphique des résultats d'un test du chi carré
E. Une représentation graphique de la variation d'une population
A. Pour déterminer la tendance des données
B. Pour identifier les valeurs aberrantes
C. Pour déterminer les limites de confiance
D. Pour comparer les formes
A. Plan de processus
B. Plan d'écoulement des matériaux
C. Plan de contrôle
D. Plan de séquence
A. Modèle de surface de réponse
B. Modèle de catastrophe
C. Modèle de stress du travail
D. Modèle de réponse variant dans le temps
E. Modèle de dégâts cumulatifs
A. Modèle de test de vie accéléré
B. Modèle de soutien à la vie avancée
C. Modèle de cycle de vie accéléré
D. Modèle de contrôle de locomotif avancé
E. Protocole de soutien à la vie avancée
A. Analyse des causes et des effets
B. Analyse des probabilités
C. Analyse de la criticité
D. Analyse du mode d'échec et des effets
E. Analyse des échecs
A. Pour prioriser les actions correctives
B. Pour déterminer les mesures correctives à prendre
C. Pour déterminer la séquence et le temps
D. Communiquer des actions correctives aux parties prenantes concernées
A. Normaliser les données d'entrée
B. Prendre le dérivé de la distribution de défaillance PDF
C. Intégration de la distribution de défaillance PDF
D. Pondération exponentielle
E. Calcul de la fonction de danger cumulatif
A. Déterminer la taille de l'échantillon
B. Déterminer les chances de succès
C. Méthode de décomposition
D. Déterminer la probabilité que quelque chose soit probable
E. Déterminer la probabilité d'un événement
A. Contrôle des processus statistiques
B. Analyse des échecs
C. Analyse du mode d'échec et des effets
D. Analyse de dégradation
E. Pareto Charting
A. Conditions à haut risque
B. Conditions défaillantes
C. Des conditions extrêmes
D. Conditions normales
A. Échec FMEA
B. Analyse du mode d'échec et des effets
C. Analyse du mode de défaut et des effets
D. Fauteur FMEA
E. Conception fmea
A. Amélioration de la conception
B. Déterminer la cause des échecs
C. Détecter les échecs potentiels
D. Déterminer l'impact des échecs
E. Tester le composant
A. Assurance du design
B. Conception pour la fiabilité
C. Analyse des échecs
D. Ingénierie de la fiabilité
A. Un processus dans lequel un produit est soumis à plusieurs cycles de test de fiabilité
B. Un processus qui utilise la simulation informatique pour étudier la fiabilité des produits
C. Un processus dans lequel un produit est retraité pour améliorer sa fiabilité
D. Un processus dans lequel des produits en double sont produits pour établir une base de référence pour la comparaison
E. Un processus dans lequel un ensemble de pratiques d'ingénierie de fiabilité est utilisé au début de la conception d'un produit
A. Drbfm
B. A B C D
C. Pertinence
D. 5s
A. Qualitatif
B. Quantitatif
C. Probabiliste
D. Ni
A. La probabilité d'une cause donnée de défaillance conduisant à une cote de détection
B. La probabilité de détection préalable pour chaque cause de défaillance
C. La probabilité de détecter un échec pour chaque cause
D. Le nombre d'échecs qui seront détectés pour chaque type de cause
E. Le nombre de causes potentielles de défaillance
A. Heures
B. Les échecs
C. Minutes
D. Temps d'arrêt
E. Pannes
A. Temps de test cumulé et taux de réussite cumulative
B. Temps de test cumulé et échecs cumulatifs
C. Temps de test cumulé et note moyenne
D. Temps de test cumulé et pourcentage d'élèves atteignant une norme
A. Modèle de croissance de la fiabilité
B. Modèle de séries chronologiques
C. Modèle cumulatif
D. Fonction de distribution cumulative
E. Modèle de cycle de vie
F. Temps de test umulatif et nombre de questions
A. Fréquences
B. Manque de fiabilité
C. Probabilité
A. La capacité d'un système à produire une sortie stable
B. La distribution des conditions météorologiques
C. L'organisation des connaissances dans un système
D. La distribution spatiale d'une population
E. La fiabilité des systèmes complexes
A. Une distribution de Poisson
B. Un taux de défaillance constant
C. Une distribution uniforme
D. Une distribution de Bernoulli
A. Shepp-Logan accéléré le test de vie
B. Modèle d'Eyring
C. Modèle de mont Rushmore
D. Modèle Eshelby
E. Mode Ramsauer
A. Tension
B. Temps d'échec
C. Variable aléatoire
D. Fréquence
E. Espace d'échantillon
A. Modes d'échec et analyse des effets
B. Analyse de la cause originelle
C. Catégorisation de l'effet d'échec
D. Localisation des défauts
A. Fonctionnel
B. Physique
C. Communication
D. Logique
E. Matériel
A. Revue de pré-frais
B. Analyse des arbres de défauts
C. Mode de défaillance et analyse de criticité
D. Analyse du mode d'échec et des effets
A. Pour comprendre comment empêcher l'échec
B. Pour déterminer les effets de l'échec sur un produit ou un processus
C. Pour identifier les modes de défaillance potentiels pour un produit ou un processus
D. Pour identifier les mesures correctives qui doivent être prises en cas de mode de défaillance
E. Pour déterminer les effets d'un mode de défaillance possible sur les performances du produit ou du processus
A. Rapports sur la durabilité
B. Les prévisions de vente
C. Sponsors
D. Des chercheurs
E. Fmeas
A. Analyses de fiabilité / disponibilité et calculs des coûts
B. Planification des fréquences
C. Analyse de l'environnement réglementaire
D. Soutien technique
E. Approbations réglementaires
A. Ravageur
B. DMA
C. diagramme de Gantt
D. FMEA
E. PSM
A. Analyse de la criticité
B. Analyse de risque
C. Établir des risques
D. Détermination de la cause et de l'effet
E. Diagramme de cause à effet
A. Taux d'échec
B. Probabilité
C. Taux d'occurrence
D. Probabilité d'échec
E. Chance d'échec
A. Méthodes basées sur les données
B. Inférence bayésienne
C. Estimation de vraisemblance maximale
D. Régression non linéaire
A. Un modèle avec une réponse non linéaire
B. Expositions radiologiques
C. Contraintes thermiques
D. Un modèle avec une structure inconnue
E. Contraintes mécaniques
A. Pression hydrostatique
B. Dilatation thermique
C. Un produit qui a une grande variation des caractéristiques physiques
D. Un processus avec des entrées instables
E. Un modèle de test de vie accéléré
A. La distribution gamma généralisée
B. La distribution binomiale
C. La distribution de Pareto
D. La distribution de Weibull
A. Normal
B. T-distribution
C. Weibull ou Lognormal
A. En forme de T
B. En forme de V
C. En forme de S
D. En forme de U
A. Combien d'efforts sont nécessaires pour maintenir un projet
B. Coûts encourus à différentes étapes du développement
C. Combien de temps il faudra pour qu'un projet termine
D. Valeurs de fiabilité à différentes étapes du développement
E. Taux de variation des coûts et de la fiabilité
A. Efficacité
B. Fiabilité
C. Mortalité
D. Morbidité
A. Lorsqu'un produit doit être entretenu
B. L'efficacité du produit
C. Modes de défaillance probables pour le produit
D. La nécessité de concevoir ou de tester plus
E. Causes probables de dysfonctionnements
A. Halt-x
B. S'arrêter
C. Interrompre II
D. HARD III
E. Arracher
A. Stockage sécurisé hautement accéléré
B. Dépistage de la santé et de la sécurité
C. Dépistage de stress très accéléré
D. Santé et sécurité dans les écoles
E. Tête, bras, épaules, colonne vertébrale
A. Détecter si un produit a été rappelé
B. Vérifiez la qualité d'un article avant son expédition
C. Empêcher l'envoi d'articles défectueux
D. Vérifiez si l'article a expiré
E. Détecter quand un article a été endommagé
A. Plus haut
B. Inférieur
C. Équivalent
D. Moins important
E. Plus important
A. La fiabilité du composant
B. La variance du composant
C. La première dérivée partielle de la fiabilité des composants par rapport à la fiabilité du système
D. L'erreur quadratique moyenne du composant
E. Le temps moyen entre les échecs pour le composant
A. Une méthode de collecte de données
B. Une valeur numérique
C. Une catégorie de données
D. Une mesure de la variabilité
E. Une gamme de temps
A. Données qui représentent une gamme de temps
B. Données qui représentent une gamme de prix
C. Données qui représentent une gamme de valeurs numériques
D. Données qui ont des valeurs manquantes
E. Données qui ne sont pas mesurées en continu
A. Modèle de pièces surdimensionné
B. Modèle de test de vie réduit
C. Pas de changement dans le modèle de test de vie
D. Modèle de test de vie accéléré
E. Modèle de conception simplifié
A. Amorcer
B. Fréquence cumulative
C. Coefficient de corrélation
D. Rééchantillonnage
E. Estivateur de Kaplan-Meier
A. Le nombre d'observations
B. Estimations du manque de fiabilité
C. Fréquence de l'occurrence des données
D. Mesures de tendance centrale
E. La quantité de données
A. Déterminer le temps de première défaillance d'un matériel
B. Estimations de fiabilité pour l'analyse des données non paramétriques
C. Estimation des courbes de survie
D. Estimation de la survie relative des groupes
E. Estimations du taux et de la probabilité des événements
A. Mauvaises données
B. Données hors gamme
C. Données censurées gauche
D. Données échouées
E. Données inutilisées
A. Un ensemble de données avec moins de 10 résultats valides
B. 500 heures d'opération
C. 30 jours de fonctionnement
D. Un échec qui n'est pas corrigé
E. Un ensemble de données qui n'est pas complètement précis
A. Analyse des échecs
B. Analyse des données de vie
C. Analyse des données d'utilisation
A. Échec et utilisation
B. Échec et kilométrage
C. Utilisation et mode de fonctionnement
D. Part de marché et âge
E. Défaillance et mode de fonctionnement
A. Le taux d'échec
B. Données d'échec uniquement
C. La fonction de fiabilité
D. Données d'utilisation uniquement
E. Données d'échec et d'utilisation
A. Une relation qui décrit comment les niveaux de stress affectent la qualité d'un produit
B. Une relation qui décrit comment les niveaux de stress affectent la fiabilité d'un produit
C. Une relation dans laquelle un partenaire met constamment plus de stress à l'autre
D. Une relation qui décrit comment les niveaux de stress affectent les performances d'un produit
E. Une relation entre un client et un vendeur où le client est toujours malheureux
A. Relation de température
B. Relation de contrainte de pression
C. Relation du stress de vie
D. Relation de pression
E. Relation de contrainte de température
A. Échantillons qui ne sont pas représentatifs
B. Suspendu ou censuré
C. Données aberrantes
D. Données échantillonnées
E. Données aléatoires
A. Inférence bayésienne
B. MAXIMUM A ASSIMATION POSERORIRI
C. Estimation de vraisemblance maximale
A. Probabilité
B. Ratio de vraisemblance au carré
C. Ratio de vraisemblance
D. Information
E. Ratio de vraisemblance
A. Modèle de croissance de la fiabilité
B. Modèle de croissance des capacités
C. Modèle de croissance de la production
D. Modèle de cycle de vie
A. Menaces fixes
B. Croissance
C. Mise à l'échelle
D. Fiabilité
E. Performance
A. Produits avec une longue espérance de vie
B. Traitements contre le cancer
C. Composants electroniques
D. Produits qui subissent une grande variation de l'utilisation
E. Produits dans lesquels la fatigue physique est le contributeur important au mode de défaillance primaire
A. Distribution de Poisson
B. Distribution lognormale
C. Distribution uniforme
D. Distribution gaussienne
E. Distribution normale
A. C'est une mesure de la fiabilité d'un processus ou d'un système
B. Le nombre de défauts qui se produisent dans une unité au cours de sa durée de vie
C. Le terme est également utilisé pour désigner la discipline de l'étude et de l'amélioration de la maintenabilité des produits
D. 0%
E. Cela dépend de la gravité de l'échec
A. Un produit
B. Un système
C. L'interface utilisateur
D. Équipement
A. La fonction de densité conjointe
B. Une distribution de probabilité
C. L'équation de variance
D. L'équation de vraisemblance
E. Une statistique
A. Estimation maximale de vraisemblance avec correction du biais
B. Inférence bayésienne
C. Estimation non paramétrique
D. Estimation de vraisemblance maximale